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近年、カーボンニュートラルに向けて、再生可能エネルギーや環境材料等の研究が世界的に加速しています。これら研究開発には、材料表面や界面のナノレベルでの構造解析や特性評価が必要不可欠となっています。そこで本講習会では、ナノレベルでの表面評価に用いられる原子間力顕微鏡(AFM)について、基本的な部分から活用事例を交えてご講演いただきます。皆様の積極的なご参加をお願い致します。なお講習会終了後、ご希望の方には分析機器の見学もできますので、ご検討の程お願いします。
日付 |
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時間 |
13時30分~15時00分 |
香川県産業技術センター 3階会議室
タイトル「原子間力顕微鏡の基礎と活用事例」
講 師 株式会社日立ハイテクフィールディング 東京支店 解析装置二課 AFM担当 山田 貴史 氏
内 容
本講習会では、AFMの基本原理から測定のポイント、AFMで測定可能な事案と併せて、具体的な活用方法や品質評価について紹介します。
30名程度
無料
申込書に必要事項をご記入の上、下記問合せ先のE-mail又はFAXにてお申し込みください。
令和8年7月17日(金曜日)
材料技術課 白川(s.hiroshi@itc.pref.kagawa.jp)
材料技術課 茨木(ibaragi@itc.pref.kagawa.jp)
※上記2つのメールアドレスは@が全角のため、コピー&ペーストでは、メールを送信できません。@を半角に修正してから送信ください。
〒761-8031 香川県高松市郷東町587-1
(TEL:087-881-3175 FAX:087-881-0425)
香川県
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